지에스이엠(GSEM) 제공


전자현미경 전문기업인 ㈜지에스이엠(GSEM)은, 지난 11월 28일 한국나노분석랩(Knal)과 CIQTEK의 FIB-SEM(모델 : DB550) 공급 계약을 체결했다고 밝혔다.
FIB-SEM은 집속 이온 빔을 시료 표면에 주사하여 발생하는 전자 및 이온 신호를 분석함으로써 시료의 표면 및 단면을 고해상도로 관찰할 수 있는 장비이다. 나노 단위의 정밀 가공이 가능하며, 특히 반도체 단면 가공, 3차원 구조분석, TEM 시편제작 등 첨단정밀 분석에 널리 사용된다. 한국릴게임
Global SEM 브랜드인 CIQTEK의 한국 독점 대리점인 GSEM은 이번 계약을 통해 Knal로 최고 수준의 정밀분석기기인 FIB-SEM(DB550) 장비를 공급하며, 분석 신뢰도를 높이고 국내 연구 현장에서 첨단 분석 장비의 활용성을 한층 강화할 계획이다.
한국나노분석랩(Knal)은 반도체 소자의 품질 검증과 고 오션파라다이스예시 장분석, 구조분석, 신뢰성 시험 등 다양한 기술 서비스를 제공하는 통합분석기술센터로, 축적된 기술력과 전문 인력을 기반으로 반도체·자동차·의료기기 분야까지 폭넓은 산업군을 지원하고 있다. 또한 KOLAS 공인시험기관으로서 신뢰도 높은 분석 체계를 갖추고 있으며 기업의 품질 문제 해결과 연구개발을 위한 지원 범위를 지속적으로 확대해 왔다.
사이다쿨 이번에 도입되는 CIQTEK의 FIB-SEM(DB550)는 저 전압 환경에서도 고해상도 이미지를 구현할 수 있도록 설계된 첨단 나노 분석·제작 장비로, ‘SuperTunnel’ 전자광학 기술과 무자성 대물렌즈 설계, Ga+ 액체 금속 이온원을 기반으로 정밀한 단면 가공과 TEM 시편 제작이 가능하다는 점이 특징이다. 또한 Nano-manipulator, 가 바다이야기 스 주입 시스템, 전기 오염 방지 메커니즘 등 다양한 기능이 통합돼 있어 미세 단면 제작부터 나노 구조 결함 분석, 고난도 TEM 시편 가공까지 효율적이고 정확한 연구 수행을 가능하게 한다. Knal은 DB550 장비를 활용해 연구의 정확성과 처리 속도를 높여 반도체 및 첨단 소재 분석 역량을 크게 강화할 수 있을 것으로 기대된다.

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지에스이엠(GSEM) 제공


이번 공급 계약은 국내 연구기관에서 CIQTEK FIB 장비의 활용성을 확장하는 계기가 될 뿐 아니라, 첨단 소재 연구와 나노 구조 분석 등 다양한 분야에서 정밀도가 요구되는 연구 활동을 지원하는 기반을 마련했다는 점에서 의미가 크다. 특히 국산·글로벌 장비 간 기술 격차가 좁혀지는 흐름 속에서, 연구기관이 보다 높은 분석 성능과 확장성을 갖춘 장비를 도입할 수 있도록 선택지가 다양해진 점도 중요한 지점으로 평가된다.
㈜지에스이엠(대표 유지택) 관계자는 “한국나노분석랩과의 계약을 체결하게 되어 매우 뜻깊게 생각한다”며 “이번 공급을 통해 CIQTEK의 고성능 FE-SEM·FIB 장비가 국내 연구 현장에서 더욱 폭넓게 활용되기를 기대한다. 앞으로도 연구자들이 우수한 분석 환경을 경험할 수 있도록 지속적으로 지원하겠다”고 말했다.
김성준 기자 illust76@dt.co.kr